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CH-1-S型薄膜测厚仪

本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片〕。本测厚仪执行GB6672-86标准。

分度值 上测头曲率半径 测头对试样施加负荷 测量精度 量限
0.001mm 15-50mm 0.1-0.5N 100vm以内 <1vm,100-250vm <2vm,250vm <3vm 0-1mm

订货信息

货号 品名 规格 售价(元)
120238 CH-1-S型薄膜测厚仪 1/1000 0-1mm 780.00
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