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膜厚/涂层/材料厚度
>>CH-1-S型薄膜测厚仪
CH-1-S型薄膜测厚仪
本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片〕。本测厚仪执行GB6672-86标准。
分度值
上测头曲率半径
测头对试样施加负荷
测量精度
量限
0.001mm
15-50mm
0.1-0.5N
100vm以内 <1vm,100-250vm <2vm,250vm <3vm
0-1mm
订货信息
货号
品名
规格
120238
CH-1-S型薄膜测厚仪
1/1000 0-1mm
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