用 途  
1.各种镀层（多层、合金、多层镍）的精密测量。
2．除平板形外，还可测量圆形、棒形（细线）等各种形状。
3．可测量0.01μm-300μm的镀层。
4．可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层。
5．可对测量数据进行统计处理，以及和主机进行共同管理。
6．可制作非破坏式膜厚仪的标准板。
7．可检查非彼坏式膜厚仪的测量精度。

特点：

1．由微处理器来进行计算、储存、思考。
2．本膜厚仪采用全对话式操作，因此，只要依照测量条件来进行设定就可测量，非常简单。
3．由於可储存64个不同的测量情况，所以有相同的测量情况时，就不必再进行设定。
＊每个测量条件可储存9999个数据。
4．最多可设定四层镀层，而每一层均可进行统计处理例如：测量条件、平均值、最大值、最小值、上下限值、直方圆均可进行计算并可由列印机印出，制作测量报告很容易。
5．每种镀层所需的电解液，敏感度及搅动标准的选择，均可由微处理器自动判断、设定。
6．标准板校正值的计算和设定可自动进行，非常简单。
7．测量数据可由通讯网路来传输，所以能和主机共同进行数据管理。
8．由于分解速度差距分得很细，因此可缩短测量时间。
9．可分离测量铜（合金）上的锡（合金）镀层间的扩散（合金）层。
10．有表面活性化的功能，所以表面处理很容易。
11．我们独特的测量台（）是利用条形弹簧方式，因此操作非常容易。

技术参数：

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