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SDY-4型四探针测试仪(配DJ-1型电动测试台) (2--3个月货期)

 

SDY-4四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器。
   仪器以大规模集成电路为核心部件,应用模拟和数字控制技术,配备微型电动升降测试台:采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。
   本仪器适用于测量半导体晶片电阻率,以及扩散层材料、离子注入层、异型外延层的方块电阻。也可测量在玻璃等绝缘材料上形成的器件的导电薄膜方块电阻。

技术指标
1  测量范围:电阻率:0.001-200Ω.cm(可扩展)。 方块电阻:0.01-2000Ω/口(可扩展)。
2  可测晶片直径(最大):100mm/150mm。
3   恒流源:电流量程分为0.1、1、10、100(mA)四档,各档电流连续可调。误差<±0.3%
4  数字电压表:量程:0-199.99mV。       分辨率:10μV。显示:四位半红色发光管数字显示。极性、小数点、超量程自动显示。输入阻抗>1000MΩ。       精度:±0.1%.
5  最大电阻测量误差(按JJG508-87进行):0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字.
6  四探针探头:间距:1±0.01mm。针间绝缘电阻≥1000MΩ。机械游移率:≤0.3%
   探针压力:TZT-9C/9D  5-8 牛顿(总力)
7  整机不确定度:(用硅标样片测试)≤5%  (0.01-180Ω.cm)
8  外形尺寸:电气主机:360×320×100mm;测试台:260×154×250mm
9  数据处理器:300×210×105mm
10   仪器重量:电气主机:约4kg;测试台:约10kg
11   测试环境:温度23±2℃;相对湿度≤65%;无高频干扰;无强光照射。

主要功能特点

1.测试数据自动保持(当该功能选择有效时)。
2.无样品数据自动显示为零(当该功能选择有效时)。
3.无外负载式电流调整。
4.恒流源电路正常自动显扎示。
5.电动测试台多种操作方法选择。

订购指南 (2--3个月货期)

编号 品名 备注 单价(元)
142118 SDY4四探针测试仪 SDY-4型四探针测试仪主机、DJ-1型电动测试台、装配9D探头   20968.00/套
142120 TZT-9D型四探针探头

探针间距1mm针距,针尖材料:碳化钨锇合金。针尖曲率半径:40±5μm。探针压力:5至8牛顿(总压力,此范围内可调)。探针机械游移率:小于0.3%。探针伸出长度2+0.5mm。针尖锥体夹角60度。针间绝缘电阻:大于109Ω

TZT-9D型四探针探头采用环氧精浇注(带红宝石轴套),以保证精确的针距.同时适用复合材料作探针,从而提高探针头的使用寿命.它具有绝缘性能好、测试数据可靠,使用寿命长等特点。它的所有技术指标符合国家标准,同时符合美国ASTM标准的有关规定。用于测薄片

  1468.00
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