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XX-2型方块电阻测试仪(FOUR-POINT PROBE METER)(手持式)

XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。

特点：1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。
2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰
3、采用单个电池供电，带电池欠压指示
4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g
5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易
6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)
7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。

技术指标
测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)
扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口)
测量不确定度≤5%
探针间距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500 MΩ
手握式探笔长度:约150mm或90mm;电缆联线长度:约1.5M

订货信息

货号	品名	备注
142200	XX-2型方块电阻测试仪	主机、装配DNT－1型或DNT－2型探头(无测试台)
142204	DNT-1型四探针探头
142206	DNT-2型四探针探头
142205	DJ-2型电动测试台	样品直径150mm,有效高度50mm


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